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塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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華測簡易探針臺是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。
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HCWP寬頻高溫介電溫譜儀/絕緣電阻

更新時(shí)間：2024-12-12

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寬頻高溫介電溫譜儀/絕緣電阻，滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來說，其實(shí)就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體.
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HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測試儀

更新時(shí)間：2025-04-03

型號：HCZDJC-50-6000

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50點(diǎn)耐壓測試儀主要用于電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。
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HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-12-31

型號：HCDH-4

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耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。
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Huace-4華測半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺

更新時(shí)間：2024-12-12

型號：Huace-4

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Huace FE-3000鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針臺

更新時(shí)間：2025-01-14

型號：Huace FE-3000

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鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針臺，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。
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HCDJC-100KV工頻電壓擊穿測試儀

更新時(shí)間：2025-04-07

型號：HCDJC-100KV

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工頻電壓擊穿測試儀采用計(jì)算機(jī)控制，采用人機(jī)對話方式完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)，主要適用于固體絕緣材料（如：硅橡膠、絕緣漆、環(huán)氧樹脂、纖維制品、云母及其制品、塑料復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等）介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐壓時(shí)間的測試；
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HTDM-10多通道介電與電阻測試儀器

更新時(shí)間：2024-12-12

型號：HTDM-10

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可用于多通道介電與電阻測試儀器（多通道介電測試系統(tǒng)）可以用于多通道電阻、介電測試等，并可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用。
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